【功能简介】

扫描式电子显微镜（Scanning Electron Microscope），简称扫描电镜（SEM）。型号S-3400N。是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。

日立S-3400N扫描电镜是一款带有低真空功能的扫描电镜，操作界面更方便，能很好的显示样品表面的三维立体形貌。广泛应用于各种组织细胞和材料的表面结构的观察和分析。样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。